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化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置參考價：面議

參考價：面議型號：CI8
LODAS™ – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
型號： CI8 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比

化合物半導體SiC、GaN檢查裝置

2024/11/9 14:57:433268
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產化替代產品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數據：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測

2024/11/9 15:52:291030
iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術，...
型號：品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI

2024/11/9 15:34:221379
FPD Photomask缺陷檢查裝置參考價：面議

參考價：面議型號：LODAS™ – LI系列
LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比

FPD Photomask缺陷檢查裝置

2024/11/9 15:02:361247
GlassWafe缺陷檢查裝置參考價：面議

參考價：面議型號：LODAS™ – BI12
LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比

GlassWafe缺陷檢查裝置

2024/11/9 15:00:061146
Photomask Blanks缺陷檢查裝置參考價：面議

參考價：面議型號：LODAS™ – BI8
LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比

Photomask Blanks缺陷檢查裝置

2024/11/9 14:56:081325
Photomask Blanks缺陷檢查裝置參考價：面議

參考價：面議型號：LODAS™ – AI50/100
LODAS™ – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比

Photomask Blanks缺陷檢查裝置

2024/11/9 14:54:301382
微流控缺陷檢測參考價：面議

參考價：面議型號：Nanotronics nSpec Macro
微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個面，或設置照明角度和/或離散照明矢量。明場，暗場，正交和可配置的傾斜照明角度與...
型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

微流控缺陷檢測

2024/11/9 14:22:117986
晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：Nanotronics nSpec LS
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運行多個掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費力。而且，隨...
型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比

晶圓缺陷檢測光學系統(tǒng)晶圓缺陷檢測

2024/11/9 14:14:143536